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Seiwa 清和光学SWIR短波红外物镜

Seiwa 清和光学SWIR短波红外物镜

我司提供原装进口Seiwa红外物镜,日本清和光学Seiwa Optical显微物镜和光学镜头,应用于半导体和MEMS行业曝光和检测设备,同时也在研发和科研中使用,咨询邮件:sales@gewtec.com 电话:021-5427 0855。

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我司提供原装进口Seiwa红外物镜,日本清和光学Seiwa Optical显微物镜和光学镜头,应用于半导体和MEMS行业曝光和检测设备,同时也在研发和科研中使用,咨询邮件:sales@gewtec.com 电话:021-5427 0855。

    Seiwa日本清和光学在东京、大坂、山梨县都设有工厂。日本清和以光学技术为基础, Seiwa物镜具有成像画素高,适配大靶面相机,工作距离超长等优势。


Seiwa PE IR Plan Apo 物镜 

非常适合晶圆的背面检测和光激发应用。

20X 和 50X 可安装到 PS-888L 微型帽上,

并用于 YAG 激光器 (WAVELENGTH 1064NM) 的激光修复。


Seiwa SWIR PE IR Plan Apo物镜经过色彩校正可在 800 – 1600nm 波段内具备高分辨率。这些物镜提适用于短波红外波长下的高分辨率成像。95毫米齐焦距,与 200mm 焦距的筒镜结合使用用于简单的系统集成。







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