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GEWTEC LTD.
Edmund Optics® (爱特蒙特光学)光束质量分析仪设计用于测量各类激光束尺寸,为优化激光系统操作提供信息。这些激光束质量分析仪配有高分辨率和大面积传感器,以确保能够针对小型和大型激光束进行精密分析。有两种尺寸可供选择,光束质量分析仪采用适用于 1 英寸 x 32 TPI 安装的螺纹,使之能够与 C 接口配件兼容. 爱特蒙特光学光束质量分析仪备有一外部触发器,可通过脉冲激光与相机同步,同时具有 USB 2.0 与 3.0 兼容性,可提供业内最快的传输率。每台光束质量分析仪还包括具有多个显示选项(2D,3D 和 XY)的直观光束分析软件,以及许多控制工具,例如背景减除功能和高斯拟合.
高分辨率可准确测量及分析小光束质量特性
可为大光束进行分析的大面积传感器
USB 3.0接口实现最快传输率
标题 | 产品编码 | 光束直径,1/e2 (mm) | 帧频 (fps) | 包含的滤波器 | 支架 | 工作温度 (°C) | 像素大小,H x V (μm) | 像素 (H x V) | 感应区域,H x V (mm) | 尺寸 (mm) | 重量 (g) | 信噪比 (dB) | 增益 (dB) |
Edmund Optics Beam Profiler 4M | 11-045 | 55um - 11mm | 6.20 (at full frame) | Neutral Density, OD 4.0 (x1) | 1" x 32 TPI (C-Mount) | 18 to 28 | 5.5 x 5.5 | 2048 x 2048 (4.2 MegaPixel) | 11.3 x 11.3 | 61 x 81.1 x 19.7 | 138 g | 1000:1 (60 dB) | User Adjustable |
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