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上海晰微光电技术有限公司
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双轴线性标度测微尺

双轴线性标度测微尺

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本线标测微尺可同时精确校准机器视觉系统的X轴和Y轴，校准时无需旋转，无需补偿相机宽高比例。本品有两组刻线，公制刻线（25微米一小格）和英制刻线（0.001英寸一小格）。测微尺材料可选玻璃镀铬或乳白玻璃镀铬。


  • 可选新款的毛玻璃基底版

  • 双轴设计

  • 英制和公制

  • 可选通过NIST认证的版本

                              产品

标题产品编码基底分刻度尺寸 (mm)表面质量厚度 (mm)尺寸容差 (mm)NIST Certification
双轴线性标度测微尺58-608Chrome on Glass Metric: 25μm English: 1 mil (0.001") 25.4 x 76.2 60-40 1.50 ±0.100±0.100 No 
乳色玻璃基底的双轴向线性标度尺测微计58-763Chrome on Opal Glass Metric: 25μm English: 1 mil (0.001") 25.4 x 76.2 
1.50 ±0.100±0.100 No 
双轴线性标度测微尺，带NIST证书59-276Chrome on Glass Metric: 25μm English: 1 mil (0.001") 25.4 x 76.2 60-40 1.50 ±0.100±0.100 Yes 
乳色玻璃基底的双轴线性标度测微尺，带NIST证书59-277Chrome on Opal Glass Metric: 25μm English: 1 mil (0.001") 25.4 x 76.2 
1.50 ±0.100±0.100 Yes 


                                               技术数据