Moxtek硅漂移探测器（Silicon Drift Detector，SDD）即XDRIFT™系列探测器，是Moxtek面向OEM定制需求开发的SDD探测模块,其核心亮点在于模块内部集成了低噪声CMOS前置放大器，能够支持快速计数率（fast count rates），为X射线荧光分析等应用提供高效、可靠的信号采集能力,XDRIFT™探测器采用柔性电路板（Flex-type）前放组件，输出为正向斜坡信号（positive ramp output signal）。在封装形态上，Moxtek提供三种选择：标配铝制外壳（散热器）版本、无外壳版本，以及由客户自带结构设计由Moxtek代为集成的方式，充分适配不同OEM整机方案。

Moxtek XDRIFT™硅漂移探测器产品简介

Moxtek® XDRIFT™硅漂移探测器面向仪器OEM集成需求开发，搭载20mm²硅漂移探测模块，内置低噪声CMOS ASIC前置放大器，可实现高计数率探测能力，是便携式与台式X射线荧光XRF设备的核心探测元器件。

Moxtek硅漂移探测器产品核心特点

1、20mm² SDD探测模块，超低噪声CMOS ASIC：大面积芯片配合低噪声专用集成电路前放，兼顾探测效率与信号质量；

2、多层准直器+内部阻挡层：有效抑制谱图中的杂散峰（stray peaks），保障能谱纯净度；

3、8μm DuraBeryllium®保护窗，真空封装：采用Moxtek专利DuraBeryllium®材料制作8微米保护窗，真空封装工艺保证长期稳定性；

4、温度监测灵活配置：标配温度传感热敏电阻（thermistor），可选配温度二极管（temperature diode），便于整机进行温度补偿；

5、柔性电路前放+10-pin FFC连接器：Flex型印制电路前放配合10针FFC连接器，方便整机内部走线与集成；

6、铝散热外壳，RF/EMI屏蔽：铝制散热外壳同时具备射频/电磁屏蔽功能，表面经钝化处理、耐腐蚀。

Moxtek硅漂移探测典型应用场景

• 便携式、台式 X 射线荧光光谱仪 XRF：合金分拣、镀层测厚、RoHS 元素检测；

• 刑侦物证、艺术品鉴定、考古分析设备；

• 科研实验室元素分析、土壤污染物筛查仪器；

• 工业质量检测、材料成分分析 OEM 设备集成。

XDRIFT™系列提供外壳形态、温度传感方式等多种配置组合，OEM用户在选型时需要综合考虑整机电子学架构、散热与屏蔽条件。上海晰微光电为国内科研院所、高校实验室与工业设备OEM厂商提供Moxtek硅漂移探测器（SDD）的选型咨询、代采购与本地化技术支持；除硅漂移探测器 SDD以外，Moxtek拥有完整的X射线元器件与纳米光学产品线，包含手持式X射线源、台式X射线源、XPIN探测器、DuraBeryllium® 铍窗口、AP X光圈；光学方面有可见光偏振片、紫外偏振片、红外偏振片、超宽带偏振片、吸收型偏振片、像素化偏振片、线栅偏振分束镜以及NanoStructure纳米结构解决方案，如您想了解Moxtek硅漂移探测器，欢迎联系上海晰微光电。