Moxtek XPIN探测器属于高性能Si‑PIN X射线探测器，分为XPIN‑XT与XPIN‑BT两大系列，采用加厚Si‑PIN二极管，对比常规薄型Si‑PIN器件可实现更高计数率输出，是便携式与台式X射线荧光（XRF）仪器主流探测器件；探测器内置多层准直器与内部屏蔽结构，能够消除光谱中多余杂散谱线；搭载两级热电制冷器，无需液氮制冷；采用带DuraCoat® 特殊涂层的DuraBeryllium®铍窗口，抗腐蚀，可适应严苛工作环境；整体为真空封装，保障探测器可以达到较低工作温度。提供6mm²、13mm²两种灵敏面积可选，整机结构紧凑，方便仪器厂商做OEM集成设计；XPIN‑XT版本不带集成温控，适合客户自主搭建温控系统；XPIN‑BT版本集成温度控制单元与金属屏蔽外壳，开箱即可使用，安装调试更加便捷。

Moxtek XPIN探测器产品系列

1、XPIN‑XT探测器：模块化裸机版本，不带集成温控外壳，支持客户自主设计温控与外壳结构，适合空间受限、需要深度定制的 XRF 设备开发；

2、XPIN‑BT探测器：完整整机封装版本，集成温控电路与金属屏蔽外壳，开箱可用，安装调试简单，适合台式与标准化便携式 XRF 仪器项目。

Moxtek XPIN探测器产品核心特点

1、最大化Si-PIN分辨率：充分发挥Si-PIN芯片的能量分辨能力；

2、高峰背比（High Peak to Background）：目标峰与背景本底的比值更高，谱图质量更好；

3、高能量吸收：厚硅二极管带来更强的X射线吸收能力；

4、探测器/射线源近距离耦合，适合便携：紧凑结构便于与X射线管贴近布置，支撑便携式仪器设计；

5、易于集成：紧凑尺寸与灵活配置降低OEM集成难度；

6、低功耗：适配便携与电池供电场景；

7、低校准维护：长期使用中校准维护需求低；

8、耐腐蚀：DuraCoat®涂层窗口抵抗恶劣环境侵蚀；

9、杂散峰极少：多层准直器与内部屏蔽保障能谱纯净；

10、高峰背比设计：从芯片到屏蔽结构系统性优化峰背比表现。

Moxtek XPIN探测器典型应用领域

• 便携式、台式 X 射线荧光光谱仪 XRF：合金分拣、RoHS 检测、镀层测厚、材料成分分析；

• 考古艺术品鉴定、刑侦物证检测设备；

• 土壤污染筛查、工业质量管控、塑料添加剂分析仪器；

• 科研实验室、核辐射监测等科研 OEM 设备集成。

Moxtek XPIN探测器有有效面积、前放类型、温度传感、外壳与线缆等多维配置，选型时需要结合整机架构与使用环境综合权衡。上海晰微光电为国内科研院所、高校实验室与工业设备OEM厂商提供Moxtek XPIN探测器的选型咨询、代采购与本地化技术支持；除Moxtek XPIN探测器之外，Moxtek拥有完整的X射线元器件与纳米光学产品线，包含手持式X射线源、台式X射线源、Moxtek硅漂移移探测器(SDD)、DuraBeryllium® 铍X射线窗口、AP X光圈；光学方面有可见光偏振片、紫外偏振片、红外偏振片、超宽带偏振片、吸收型偏振片、像素化偏振片、线栅偏振分束镜以及NanoStructure纳米结构解决方案，如您想了解Moxtek XPIN探测器，欢迎联系上海晰微光电。