GEWTEC LTD.


Moxtek红外偏振片专为近红外(NIR)、短波红外(SWIR)、中波红外(MWIR)及长波红外(LWIR)应用而设计,是业界领先的线栅(Wire-Grid)纳米偏振器件。
Moxtek红外偏振片产品包括两大系列:
BIR系列(NIR至SWIR):工作波段覆盖700nm至2.5μm,提供高对比度版与高透过率版两种优化方向,适用于短波红外成像、激光制导及光谱分析等场景。
SIR系列(MWIR至LWIR):工作波段覆盖3~5μm及8~12μm,采用AR镀膜硅(Silicon)基底,是一款兼具卓越对比度与高透过率的宽带偏振器,专为热成像、红外制导及远红外光谱测量等严苛环境设计。
Moxtek红外偏振片产品核心特点
1、亮度与对比度均匀性:视场与波段内表现一致;
2、大于20°半角无性能损失:宽入射角容忍度,简化红外光学系统设计;
3、波长与入射角(AOI)独立:性能不随波长与入射角波动,行为可预期;
4、高耐热性:适应红外应用中的高能量、高温度环境。
Moxtek红外偏振片典型应用场景
红外热成像与气体分析:MWIR(3-5μm)与LWIR(8-12μm)是典型热成像与红外气体吸收窗口;
近红外光谱与成像:BIR系列覆盖700nm~2.5μm的主流NIR/SWIR应用;
高对比度偏振测量:双片堆叠方案满足极端消光需求;
高能量、高温红外系统:依托高耐热特性稳定工作。
Moxtek红外偏振片支持多项灵活定制选项,满足不同系统需求
Moxtek红外偏振片可定制参数
透过率等级(Transmission levels):根据光通量需求选择高透过版本;
对比度等级(Contrast levels):根据偏振纯度需求选择高对比版本;
尺寸与形状(Size):方形、圆形、矩形或自定义轮廓;
透振轴方向(Transmission axis):根据光路设计确定偏振方向;
外观质量等级(Visual Criteria):VC0/VC1/VC2/VC4多档可选。


*性能数据基于样品测试得出,不同产品之间可能存在一定差异
Moxtek红外偏振片产品参数
Performance Specifications at Normal Incidence (BIR Series)
| Performance Specifications at Normal Incidence | ||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Product | 900nm | 1400nm | 1900nm | 2400nm | ||||
| Tp% (min) | Ts% (max) | Tp% (min) | Ts% (max) | Tp% (min) | Ts% (max) | Tp% (min) | Ts% (max) | |
| BIR04A | 81.5 | 0.071 | 87.7 | 0.029 | 88.9 | 0.016 | 88.5 | 0.015 |
| BIR05A | 88.1 | 0.529 | 91.0 | 0.172 | 91.3 | 0.114 | 90.2 | 0.090 |
Performance Specification & LDT (SIR Series)
| Performance Specification at Normal Incidence | ||||||||||||
|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|---|
| Product | 3.0μm | 3.7μm | 5.0μm | 8.0μm | 10.6μm | 12.0μm | ||||||
| Tp% (min) | CR (min) | Tp% (min) | CR (min) | Tp% (min) | CR (min) | Tp% (min) | CR (min) | Tp% (min) | CR (min) | Tp% (min) | CR (min) | |
| SIR3-5 | 90 | 5,000 (37.0 dB) | 95 | 5,000 (37.0 dB) | 94 | 7,000 (38.5 dB) | - | - | - | - | - | - |
| SIR8-12 | - | - | - | - | - | - | 85 | 7,000 (38.5 dB) | 81 | 7,000 (38.5 dB) | 75 | 7,000 (38.5 dB) |
| Laser Damage Threshold (LDT) | |||||
|---|---|---|---|---|---|
| Product | LDT Results (kW/cm²) | LDT Test Parameters | |||
| Blocking | Passing | Wavelength (μm) | Diameter of Beam (μm) | Exposure Duration | |
| SIR3-5**† | 0.64 | >14 | 3.3 | 150 | 20 minutes |
| SIR8-12† | 100 | 10 | 10.6 | 360 | 30 seconds |
在产品选型搭配上,Moxtek完整偏振产品线可以相互配套:可见光波段选型可参考Moxtek可见光偏振片(Visible Polarizers);杂散光抑制场景选用Moxtek吸收式偏振片(Absorptive Polarizers);紫外专用选用紫外偏振片(Ultraviolet Polarizers);特殊成像方案可选用像素化偏振片(Pixelated Polarizer);除光学偏振产品以外,上海晰微光电还可以提供Moxtek的X射线,包含X射线光源(X-Ray Sources)、X射线探测器(SDD 硅漂移探测器、XPIN 探测器)、X射线光窗(X-Ray Windows),如需了解BIR/SIR系列的具体配置、报价与货期,欢迎联系上海晰微光电获取专业支持。
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